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破壞性推力測試機,芯片推力治具設(shè)計

發(fā)布時間:2023-08-05         文章來源:

關(guān)于破壞性推力測試機芯片推力治具設(shè)計:

一、目的:設(shè)計芯片推力治具;

二、背景:由于此產(chǎn)品芯片推力達到7Kgf以上,并且基板厚度較薄為0.2mm,導(dǎo)致在做推力時壓合和吸合強度不足,從而在做破壞性推力時出現(xiàn)刮破基板異常;

三、目標:

①單顆產(chǎn)品壓合,建議壓筋寬度為0.7mm,太寬容易壓傷有效區(qū)域的產(chǎn)品;                 

②單顆產(chǎn)品對應(yīng)開真空孔,建議真空孔φ0.8mm,孔徑偏大會增強吸附力;

③需兼容兩款產(chǎn)品;  

芯片推拉力測試機.jpg
這款微小產(chǎn)品推拉力機,又稱為微小產(chǎn)品推拉力測試機、微小產(chǎn)品推拉力試驗機,能對金屬、非金屬材料進行推拉力、剪切力、剝離力、拉拔力等物理力學(xué)性能測試,如半導(dǎo)體、焊線、金線、銅線、合金線、鋁線等線束、金球、銅球、錫球、固晶、晶圓、薄膜、芯片、電子元件、鋁帶、燈光、LED、液晶、顯示屏、手機、電腦、表盤、各式彈簧、門鎖、電器等,廣泛應(yīng)用于軍工、航天、工業(yè)、研究機構(gòu)、實驗室等領(lǐng)域。

推拉力測試機夾具.jpg

博森源芯片測試治具的優(yōu)勢在于它的結(jié)構(gòu)緊湊,可以大大縮短芯片測試的時間,提高測試效率,減少測試環(huán)境的復(fù)雜度,提高測試精度,從而確保芯片的正常工作,減少芯片出現(xiàn)故障的概率。

1.工作原理:芯片測試治具又叫插拔治具,是指將芯片[敏感詞]到治具上,然后通過外部的電路來模擬芯片的工作狀態(tài),從而對芯片的功能進行測試,以達到檢查芯片是否正常,以及排查芯片是否有缺陷的目的。

2.結(jié)構(gòu)特點:芯片測試治具的結(jié)構(gòu)主要由支撐架、測試座、連接器和電路板組成,測試座上有一塊結(jié)構(gòu)簡單的芯片,用于檢查芯片是否正常工作,支撐架用于固定測試座,連接器用于連接電路板,電路板可以模擬芯片的工作狀態(tài),從而進行測試。

3.設(shè)計:芯片測試治具的設(shè)計首先要考慮治具的結(jié)構(gòu)簡潔性、尺寸精度和功能可靠性,同時要考慮治具的安全性和適用性,以確保治具的正確性和可靠性。

4.制造:芯片測試治具的制造要求零件的尺寸精度要高、外觀要美觀,同時還要考慮治具的安全性和可靠性,以便在使用時確保芯片的正確性和可靠性。

5.維護:芯片測試治具的維護要定期檢查治具的結(jié)構(gòu)、連接器和電路板是否完好,以確保治具的正常工作,還要定期更換治具的潤滑油,以確保治具的正常工作。

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